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Rasterelektronenmikroskope in 07743 Jena

EU - Vergabebekanntmachung (EU-weit)

Vergabe-ID: 286187

Auftraggeber
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Ausführungsfrist
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Angebotsfrist
21.12.2015
Angebote nur in Papierform zulässig

Ausgeschriebene Leistung:

Systemlösung, die einen fokussierten Ionenstrahl (focused ion beam – FIB) in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop (scanning electron microscope – SEM) bereitstellt. Hauptaufgabengebiete sind die Charakterisierung und Nanostrukturierung von teilweise lithographisch strukturierten und/oder chemisch synthetisierten, sowohl elektrisch...
  1. Jena
    07743 Jena, Thüringen

Bekanntmachungs-ID: 286188

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Kennzeichen: 063030009 Veröffentlichung der Ausschreibung auf eVergabe.de vom 30.10.2015 bis 21.12.2015

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