Rasterelektronenmikroskope in 07743 Jena

Angebotsfrist: abgelaufen(21.12.2015 00:00 Uhr)

Systemlösung, die einen fokussierten Ionenstrahl (focused ion beam – FIB) in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop (scanning electron microscope – SEM) bereitstellt. Hauptaufgabengebiete sind die Charakterisierung und Nanostrukturierung von teilweise lithographisch strukturierten und/oder chemisch synthetisierten, sowohl elektrisch...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

286187
Angebotsfrist: abgelaufen(21.12.2015 00:00 Uhr)

Ausführungsort (1)

  • 07743 Jena

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