Rasterkraftmikroskop in 07747 Jena

Angebotsfrist: abgelaufen(23.06.2016 00:00 Uhr)

Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit...

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

832966
Angebotsfrist: abgelaufen(23.06.2016 00:00 Uhr)

Ausführungsort (1)

  • 07747 Jena

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