Inline AFM (IPMS-CNT10.1; IPMS-CNT10.3) - PR908005-2480-P

28Tage

Teilnahmefrist12.06.2025 10:30 Uhr

Inline AFM (IPMS-CNT10.1; IPMS-CNT10.3) Inline AFM (IPMS-CNT10.1; IPMS-CNT10.3) 1 Stück Inline AFM; Komplettes Rasterkraftmikroskop-System für die Wafer-Metrologie bis 300 mm, bestehend aus entkoppelten XY- und Z-AFM-Scannern mit biegegeführtem Scan-System für alle drei Achsen:; Das für den 300-mm-Reinraum anzuschaffende Werkzeug soll innerhalb...

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3181727
28Tage

Teilnahmefrist12.06.2025 10:30 Uhr

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Ausführungsort (1)

  • 01109 Dresden

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