MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool

Vergebener Auftrag - Fristen abgelaufen

Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

2852364
Vergebener Auftrag - Fristen abgelaufen

Ausführungsort (1)

  • 04103 Leipzig

Zeitraum der Leistungserbringung

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