Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W

Teilnahmefrist: abgelaufen(03.04.2024 11:00 Uhr)

PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern Das Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT plant im Rahmen eines Projektes die Beschaffung eines Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskops mit integrierter EDX-Analyse.

Vergabeart

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten

Auftrag­geber

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten

Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten

Vergabe-ID (bei evergabe.de)

2912373
Teilnahmefrist: abgelaufen(03.04.2024 11:00 Uhr)

Ausführungsort (1)

  • 25524 Itzehoe

Zeitraum der Leistungserbringung

Status meiner Bearbeitung

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten

Meine Notiz

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten

Jetzt freischalten und Zugriff erhalten auf:

  • Name des Auftraggebers
  • Zeitraum der Leistungserbringung
  • Vergabeunterlagen (ggf. Verlinkung)
  • Bekanntmachungstexte
  • Teilnahme am Verfahren (ggf. Verlinkung)
  • Persönliche Notizen und Bearbeitungsstatus