Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung

Angebotsfrist: abgelaufen(19.04.2024 10:00 Uhr)

Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung Für unsere Forschungen im Bereich der Nanowissenschaften und der Biologie benötigen wir ein Atomkraft-Mikroskop (AFM) zur Charakterisierung und Modifikation der dynamischen, nanomechanischen, strukturellen und elektrochemischen Eigenschaften verschiedener...

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

2924133
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Ausführungsort (1)

  • 70569 Stuttgart

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